液氮高低温探针台在科学研究和技术开发中发挥着至关重要的作用。它能够在低温环境下对样品进行各种非破坏性的物理性能和电学性能测试，帮助研究人员深入了解材料或者器件的各种物理性能和电学性能，从而为新材料的研发和应用提供重要的数据支持。

  PSM-LN2系列液氮高低温探针台能够为半导体芯片的电学参数测试提供一个80K-800K高低温真空测试环境，通过外接不同的电学测量仪器，可完成集成电路的电压、电流、电阻以及IV曲线等参数检测，用于低温真空环境下的芯片、晶圆和器件的非破坏性电测试。

特点
• 液氮高低温真空探针台，15分钟内腔体真空度可达到 10E-4torr，液氮消耗量小,降到低温只需0.2L液氮，使用方便快捷同时兼顾经济性；
• 探针臂的位移调节在真空腔外操作，可以在不破坏真空的情况下，切换样品上的不同器件进行测试；
• 独特的探针臂 X-Y-Z-R四维调节，能满足4英寸样品的测试；
• 真空腔材质为铝制材料，能够有效减小外界的电磁干扰提高测试的精准度和稳定性；
• 探针臂采用三同轴接头，漏电性能好，实测漏电流小于100fA @1V@80K--800K；
• 测试温度范围宽，支持80K-800K连续变温；
• 上盖采用翻盖结构，换样更便捷。

测试数据

参数和指标：