8425霍尔效应及低温探针台集成系统选项

      8425 型霍尔效应及低温探针台集成系统具有最新的 Lake Shore Hall 测量功能，是许多应用物理、电气工程、材料研究和产品研发应用的理想选择。测量新材料的电子和磁传输特性，包括：

      III-V 族半导体——InP、InSb、InAs、GaN、GaP、GaSb、基于 AIN 的器件、高电子迁移率晶体管 (HEMT)、异质结双极晶体管

      II-VI 半导体——CdS、CdSe、ZnS、ZnSe、ZnTe、HgCdTe

      元素半导体 — Ge、Si 绝缘体器件 (SOI)、SiC、掺杂金刚石 SiGe 基器件（HBT 和 FET）

      高温超导体

      8425 型霍尔效应及低温探针台集成系统选项

      用于霍尔条测量的额外探针臂

      作为标准，8425 型系统附带四个安装在系统中的探头臂，用于范德堡测量。为了还执行霍尔条测量，84-HBM 选件提供了两个额外的探头臂、探头臂电缆和安装座。

      PS-HV-8425 高真空套件选项

      该选项适用于需要比标准 8425 型探针台中包含的真空系统更低的基础压力的应用。当工作站处于基准温度时，真空度达到<5 × 10 -7 Torr，这表示比标准真空度提高了两个数量级。推荐用于冷却期间对污染或冷凝高度敏感的样品。而且，有了它，您可以将抽空时间减少约 30%。

       Zoom 125 光学视觉系统选项

      8425 型探针台上的视觉系统具有 7:1 变焦光学元件，配备高灵敏度彩色 CCD 相机和监视器。该相机专为低光敏感度而选择，以最大限度地减少高图像质量所需的照明。但是，如果您需要对被测样品进行更大的放大，则可以使用可选的视觉系统将相机的功能提升至 12.5:1 变焦光学元件。镜头固定在 8425 型系统随附的 CCD 相机上。

      84032P 栅极偏置选项

      使用此选项，可以将栅极偏置电压设置为用户确定的值，从而提高霍尔测量的灵活性。例如，栅极电压可用于控制材料的载流子密度。该选件包括吉时利 6487 型皮安计电压源以及三轴 51 毫米（2 英寸）样品架。

      84031 高阻选项

      一些材料的特点是电阻非常高，很难在传统的霍尔测量系统中进行测量。这些材料包括半绝缘 GaAs 以及光电探测器和固态 X 射线探测器。此选项提供了从 10 kΩ 到 100 GΩ 的电阻测量范围。包括一个 Keithley 6514 静电计、缓冲器以最大限度地减少负载，以及一个信号引线保护器以最大限度地减少电流泄漏的影响。