霍尔样品测量选项及低电阻测量选项的好处

      84006 室温光接入体，带顶侧光接入

      光学访问允许您通过激光或光纤将样品暴露在不同波长的光下。84006 选件是一种室温主体，可为标准 HMS 样品插入件增加顶部光学访问功能。

      操作需要 84060 样品顶部光学接入套件，必须单独订购。

      样品旋转选项将 0° 到 360° 手动样品旋转添加到您的 HMS。它可作为标准轻密阀体或 84015 单点 LN 2阀体的选项提供。（它是 84016 CCR 和 84017 柱温箱的标准配置。）样品旋转适用于 10 毫米大小的样品卡。它与 50 毫米卡不兼容。

      84031 高阻

      半绝缘 GaAs、光电探测器和固态 X 射线探测器等材料的特点是电阻非常高，很难在传统的霍尔效应测量系统中进行测量。高电阻选项将 HMS 的电阻测量能力扩展到 200 GΩ（直流测量）和 8 GΩ（交流测量）。当此选项添加到您的系统中时，静电计级缓冲器用于最小化负载，信号引线中的保护可最小化漏电流的影响。当您将高电阻测量选项添加到您的配置中时，在霍尔效应测量系统中测量高电阻样品的挑战是无与伦比的。

      84032 栅极偏置

      为材料添加栅极端子可提高霍尔测量的灵活性。例如，栅极电压可用于控制材料的载流子密度。使用此选项，可以将栅极偏置电压设置为用户确定的值。然后可以使用标准的交流或直流霍尔测量和电阻率测量。

      84033低阻

      金属、超导体和某些其他材料的特点是电阻低，有时很难在霍尔测量系统中进行测量。这是因为低于约 1 Ω，样品两端的电压变得太小而无法可靠测量。从理论上讲，简单地增加电流以尝试增加采样电压似乎很实用，但这很少是可行的选择。这样做可能会导致自热并损坏您的样品。虽然电流反向和测量平均可以消除这些影响，但要达到所需的分辨率可能需要很长时间。因此，这种方法可能既低效又不可靠。

      最佳解决方案是 84033 低电阻测量选项。它扩展了直流场霍尔测量的低电阻测量功能，使您能够自信地测量 HMS 中的低电阻样品或热电材料。例如，在测量某些金属时，它将 DC 测量的电阻本底噪声从 100 nV 降低到 3 nV（在 100 mA 时从 1 µΩ 减少到 0.03 µΩ）。该选件可以随时添加到现场的系统中（但它不能与 84030 AC 现场测量选件同时使用）。

      霍尔低电阻测量选项的好处

8400 系列霍尔效应测试系统提供尽可能宽的电阻范围

      金属、超导体和某些其他具有低电阻特性的材料有时很难在霍尔测量系统中测量。为此，我们为8400 系列 HMS提供 84033 低电阻测量选项。它将 DC 测量的电阻本底噪声从 100 nV 降低到 3 nV（在 100 mA 时从 1 µΩ 到 0.03 µΩ），使用户能够自信地测量 HMS 中的低电阻样品或热电材料。84033 选项还可以提高某些标准的质量电阻测量。低电阻操作缩小了霍尔测量的频率带宽，从而降低了电压噪声以获得更好的信噪比。因此，标准电阻材料的直流场霍尔测量速度可提高 2 倍，测量稳定性更高。