2021-05-26 09:10:28 由 yihong 发表
使用Keysight型号B1500A半导体器件参数分析仪自动化测量
耗时少，测量可靠，是每一个材料研究人员所追求的目标。由于Keysight Technologies 和Lake Shore Cryotronics公司的合作，将各自的产品配合起来，使早期材料和器件在很大的温度范围内更为便利地得到了精确得表征。
Lake Shore 探针台系统中得温控仪（型号336）现在有了新的接口，使得研究者在进行自动化测量时，能够使用Keysight得B1500A型号半导体器件参数分析仪及其EasyExpert™软件进行程序化地管理温度设置。
将B1500A分析仪连接到Lake Shore 低温探针台上，可以有效地探测早期早起得器件和材料。当你需要处理其它事物时，你可以在一定温度范围内启动软件来进行各类参数的测量。在软件的整个运行过程中，EasyExper可以完美的与336协调工作，精确的记录和控制样品的温度。
操作简单，测量可靠，效率更高，欢迎使用keysight和Lake Shore新的集成解决方案来进行您的研究。
使用Keithley4200-SCS参数分析仪自动化测量
我们许多客户使用独立一起喝自动化软件来控制探针台测量。但是我们也看到，很多客户将Keithley4200-SCS参数分析仪系统集成编程接口和我们的专利ZN50R-CVT探针集成在一起进行自动化变量温度测量。
这非常节省时间，特别时在各种温度下测量IV曲线或薄层电阻。原有的测量方式是：设置样品台温度，等待样品温度稳定，执行一个或多个器件测量，测量后移动到下一个温度，继续测量。现在您可以对系统进行编程，以逐步进行温度设置，并在一系列温度范围内运行多个测量，而无需重复用户干预。
因为Keythley最新固件版本包含了Lake Shore 336的驱动，标题所描述的功能—4200控制探针台样品座的温度，已经集成到了4200-SCS系统中。这是及其实用的，例如，进行不同温度下的晶体管件表征测量。
使用Radiant系统快速表征铁电器件
铁电材料应用广泛，包括传感器，铁电存储器（FeRAm），MEMs器件，致动器及太阳能光电板。对铁电设备的特性的快速评估，对改进电材料的加工工艺及开发其他精准的铁电设备时至关重要的。Radiant铁电测试方法和Lake Shore探针台的结合，为研究者在低温环境下有效地进行多种设备表征提供了一个灵活的平台。低温表征的增加为了解铁电材料的绝缘特性，转换机制及疲劳极限打开了新的领域。
测量包括：
磁滞现象vs温度
漏电vs温度
磁滞速度vs温度
剩余磁带vs温度
PUND剩余极化vs温度
PUND频率响应vs温度
击穿电压vs温度
IV vs温度
CV vs温度
疲劳vs温度
滞留vs温度
印记vs温度
测试环境
多样化和灵活的Lake Shore低温探针台为材料及电子器件的非破坏性电学测量提供了精确的可控环境。结合Lake Shore 的专利柔性探针使用，可以实现一定温度范围内的无人器件晶圆测试。柔性探针的设计吸收了探针臂由于热胀冷缩产生的移动，使探针可以在变温过程中稳定的扎在落针位置上。
简单的界面
Lake Shore探针台与Radiant科技公司的铁电/多铁性测试系统连用，可以在变温环境下快速的测量铁电和压电材料。
易编程
Radiant的数据采集程序在宽温度范围内执行单个样品的自动化测试，使得长时间的测试毫不费力。
和Lake Shore 探针台及336温度控制器结合使用，可以提前编程温度设定值。软件可以配置不同测量和在触摸按钮时生成多个图。这些图（在单个样品上的单通道中）包括但不限于：
测量和滞后图
剩余极化
渗漏
小信号电容
热设计和铁电元件
设置变温测量
测量阶段界限
测量强制性电压变化
测量开关速度
测量器件泄露
