8400系列霍尔效应测量系统—多种测量选件参数

      多种测量选件是可以配置您的系统以使您的样品和它们的特征属性获得最佳性能。选择您的配置时要考虑到一下参数：

      1.迁移率范围

      在使用霍尔测量系统（HMS）测量并共同导出电输运性质里迁移率是最重要的参数之一，因为在一个电子设备里迁移率通常直接与材料性能相关。磁场的类型，不论是DC还是AC，随着精密电子和软件的整合决定了你能够测量的迁移率范围。

      8400系列将DC和AC磁场测量能力最好地结合起来，这意味着8400系列拥有比任何其他商用的霍尔测量系统（HMS）更宽的测量迁移率的范围。系统标配的是传统DC磁场测量方法，最低迁移率能够测量到1cm²/Vs，虽然DC磁场方法能够测量宽范围迁移率的材料，但是不能测量新兴的低迁移率特征材料。对于这些应用，独特的AC磁场测量选件扩展了您的迁移率测量，最低可测量到0.001cm²/Vs。

         2.电阻范围

        除了霍尔迁移率和其它的样品参数之外，电阻测量师构建8400系列霍尔测量系统的功能和规格的基本模块之一。为了能够测量到最广的材料活儿特性，关键是你的系统能够测量的电阻范围。

      像迁移率范围一样，8400系列提供尽可能宽的电阻范围，系统非常重视在电输运系统里对弱电流和小电压的控制。虽然标准系统能够测量的电阻范围从0.5mΩ到10MΩ，电阻测量选件允许你在DC磁场下能够测量的电阻范围低至：0.5µΩ，高至200GΩ。在AC磁场下最高电阻限制到8GΩ，宽的电阻范围确保了你能够研究最宽的材料霍尔特性。

         3.磁体配置

      对于任何的霍尔测量系统，磁体都是关键的组成部件之一，它决定了你能执行什么样的测量。8400系列标准的配置优化了最大磁场强度并确保了样品区域内磁场的均匀性，可选的极帽直径可以按照你的具体要求去配置磁场和均匀去，磁铁也能够配置横向的光学通道以允许激光器和其它光学设备发出的光通向样品。

      8400系列采用的事EM4-CSA电磁铁，它独一无二的极头调节特性可以允许你根据样品所需磁场的大小来重复性地改变极头间隙。电磁铁配备了标准间隔，允许你在不使用任何测量工具的情况下调节极头气隙到预定的位置，让你能够自信在调节极头间隙时保证你的磁场重复性。

      8404型霍尔测量系统，配备了一个100mm（4英寸）的电磁铁，DC磁场霍尔测量最大能测量到1.67T。8407型霍尔测量系统配备了一个180mm（7英寸）的电磁铁，DC磁场霍尔测量最大能测量到2.25T。

      4.温度范围

      虽然在许多情况下室温测量是足够的，但随着温度的变化，输运性能有显著的改变。在变温条件下测试一个样品，允许载流子通过它们的激发能被识别，并提供主要散射机制的相关信息。对于即将被用于变温环境中的材料，在变温环境下测试可以检测它们在相关温度下的稳定性。8400系列的目的是通过控制温度和磁通量，达到精准的，可靠的霍尔效应和电子输运测量。

      系统可提供各种温度选件来扩展其功能。如果你只需要在室温和77K温度下测量样品，我们可以提供液氮单点选件，闭循环低温选件的可测温度范围：15K到400K，高温炉可将测量温度扩展至从室温到1273K。8400是可以现场配置的，所以这些温度选件可以随时添加到系统中。

        5.额外测量选件

      8400系列选件采用的是模块化设计，你可以根据需要创建确切的系统。额外的测量选件和硬件选件能够在订单里配置，或者你能够在任何时候去升级系统。这种灵活性确保了你的投资，让你能跟上特性测量快速变化的速度。未来附加的升级项目也在开发中。