2021-05-31 10:20:55 由 yihong 发表
84030 AC磁场霍尔选件
传统CD霍尔测量方法可以满足大部分霍尔迁移率高于1cm²/Vs样品的测量和学习。但对于迁移率低于1cm²/Vs的样品，它却显得力不从心，像：光伏，热电，有机半导体等材料。独特的84030 AC磁场测量选件打破了传统DC磁场霍尔德局限性。它将您的系统的霍尔迁移率量拓展到0.001cm²/Vs，允许你测量这些地迁移率材料获得更大的分辨率。
AC磁场霍尔测量选件兼容84031高阻测量选件，并兼容所有的温度选件，但不兼容84033低阻测量选件。
84006顶部带光学通道的室温光学选件
在霍尔测量系统中，光学通道通常是需要的，你能够研究你的材料样品在不同的波长的光下的效果，这些光是通过激光器或者光纤引入的。84006是一个室温光学选件，在标准霍尔测量系统样品杆的顶部增加光学通道。
顶部光学通道是84060使用必须的组件，且需要单独购买。
84010样品旋转选件
样品旋转选件增加0-360度手动样品旋转到你的霍尔测量系统，样品旋转选件可以和标准样品插件或者84015单点液氮容器一起使用。（它来自标准的84016闭循环制冷剂选件和84017高温炉选件）样品旋转可用10mm样品卡，与50mm样品卡不兼容。
84031高阻选件
像半绝缘材料GaAs，光学探测器和固态X射线探测器等材料的特征是电阻非常高，使用传统的霍尔效应测量系统测量非常困难。84031高阻测量选件扩展了霍尔测量系统的电阻测量能力。在DC模式下可测量到200GΩ，AC模式下8GΩ。当这个选件被增加到你的系统，静电计急缓冲器可以减小负载，测试线的Guard层可以减小漏电的影响。当你增加高阻测量选件到你的配置里时，在霍尔效应测量系统中测量高阻样品的挑战就不存在了。
84032门偏置电压
增加偏置端子到材料中增加了霍尔测量的灵活性。例如，一个门电压能够被用来控制材料的载流子浓度。使用这个选件，门偏置电压能够被设置为用户指定的值。标准的AC或DC霍尔测量和电阻测量师仍然可用的。
84033低电阻
作为低电阻的金属，超导体或某些其它他材料，在霍尔系统中很难被测量出来。这是因为电阻低于1G，材料两端的实际电压变得太小而难以准确测量。理论上讲，可以通过增加电流来获得更大的电压，但这可行性非常小，这样做很可能会引起自热并损坏你的样品。虽然电流反转和测量平均值能够消弱这些影响，但需要花费较长的时间来达到我们期望的分辨率，所以这种方法是低效和不可靠的。
最好的解决办法是84033低阻测量选件。它扩展DC磁场下的低阻测量能力，能够更好的测量低阻和热电样品。例如，DC磁场下测量某些金属，可以减小电阻的背景噪声100nV到3nV。
84033可以提高标准电阻测量的标准性和速度。低阻操作缩小霍尔测量的带宽频率，降低了电压的噪声（到3nV）得到更好的信噪比，所以DC磁场下测量标准电阻速度更快，稳定性更好。
低阻选件不能和84030一起使用。
