探针台ttpx

美国 Lake Shore TTPX低温真空探针台可以对器件进行非破坏性的测试，器件的最大尺寸可达到51mm(2inch)。它可以对材料或器件的电学特性测量、光电特性测量、参数测量、high Z测量、DC测量、RF测量和微波特性测量提供一个测试平台。一般来讲，纳米电子材料、量子线、量子点和半导体材料是在TTPX在进行测量的比较典型的材料。系统的探针、测试电缆、样品架都有多种类型可供选择，从而满足不同用户的需要。

探针台ttpx产品介绍

美国 Lake Shore TTPX 低温真空探针台的温度范围是4.2K到475K，加低温选件后，温度可降低到3.2K，加入高温选件，温度范围为20K-675K,系统需要使用液氦或液氮实现变温，热辐射屏大大降低了黑体辐射，提高了制冷效率。冷头上安装加热器，减小了样品的温度梯度，加上热辐射屏上的加热器，整个系统可以实现快速的变温。

美国 Lake Shore TTPX 低温真空探针台具有最多6个可以进行微调整的探针臂，每个探针臂上的探针都可以进行3维方向上的定位。专用的探针根据尺寸和材料不同，分为多种类型，探针减少了热质量，优化了和器件的电接触性。每个探针都直接和冷头进行导热，这样就减小了探针对样品的热传递。

为了提高系统的实用性，系统还可以提供3.2K的温度扩展选件、振动隔离装置、LN2杜瓦、高放大倍数的显微镜、分子泵组、热辐射屏的温度控制装置、探针臂的光纤电缆、光学样品架等选件。

探针台ttpx产品特点

（1）系统可使用液氮或液氦制冷，基本系统温度范围：4.2 K to 475 K

（2）加入温度选件，温度范围可到3.2K-475K或20K-675K

（3）控温稳定性：±50mK

（4）探针臂3轴方向可调节，并可进行面内±5°旋转

（5）测量DC到67GHz

（6）￠5mm(0.2 in)光学样品架，可以从背面照射样品

（7）探针臂传上安装温度感器进行温度监测

（8）最大测试样品尺寸51mm直径

（9）最多可使用6个探针臂

（10）电缆、屏蔽和Guard保护进一步减少了电噪声和热辐射损失

（11）可提供不同的选件和附件来满足特定的科研测试需要

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