上海懿宏科学仪器有限公司赞助第十九届全国半导体物理学术会议SPC2013

2013年7月14日至16日，第十九届全国半导体物理学术会议SPC2013在山东威海成功举办。

会议组照

会议专题如下：

• 1．半导体自旋电子学

• 2．宽、窄禁带半导体

• 3．半导体低维结构器件和物理

• 4．杂质与缺陷

• 5．表面与界面物理

• 6．发光物理与瞬态光谱技术

• 7．其它相关问题

上海懿宏科学仪器有限公司作为主要赞助展商，它经营的低温真空探针台测试系统可以对器件进行非破坏性的测试，器件的最大尺寸可达到51mm(2inch)。它可以对材料或器件的电学特性测量、光电特性测量、参数测量、high Z测量、DC测量、RF测量和微波特性测量提供一个测试平台。一般来讲，纳米电子材料、量子线、量子点和半导体材料是在探针台进行测量的比较典型的材料。系统的探针、测试电缆、样品架都有多种类型可供选择，从而满足不同用户的需要。