HEMS霍尔效应系统

霍尔效应测量系统可用来理解和表征材料物理性，具有不可估量的价值，可获得的数据结果包括：电阻、电阻率、霍尔系数、霍尔迁移率、载流子浓度、电流-电压特性曲线。 对于新兴半导体材料，如太阳能电池、光电、热电、有机半导体材料，由于其低迁移率特性，直流磁场霍尔效系统无法对这类材料进行准确和稳定的测量。经过3年的研发，Lake Shore于2012年推出了交流磁场霍尔效应测量系统，其可测量的迁移率范围可低至10-3cm2/V.S，可以准确的对各种半导体材料进行测量。