半自动探针台应用领域

半自动探针台应用领域

半自动测试探针台针对8英寸晶圆片测试而设计的一体化在片测试解决方案，同时可提供射频微波、高压大电流测量能力。探针台载片台平面采用铝合金镀金保证测试过程中的低接触电阻、超薄晶圆片处理和功率耗散，同时提供低漏电噪声的保护及屏蔽环境。为了保证高压测试的人身安全，半自动测试探针台采用了安全互锁系统机构和测试系统级联。    

半自动探针台控制软件简单直观控制载片台XYZ三向的步进移动，wafer图形分布描述，芯片图像对准，坐标定位等功能，同时配置经典的四向迷你位置操作键盘。

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